科技成果轉化公示〔2021〕13號——閃存特性測試方法及測試裝置

作者: 时间:2021-04-02 点击数:

根據《華中科技大學科技成果轉化管理辦法》規定,對“閃存特性測試方法及測試裝置”成果轉化相關事項公示如下:

一、成果名稱及簡介:

該成果包含如下12項知識産權:

(1)發明專利:一種SSD內實現的閃存壽命預測方法

發明人:劉政林,周新,魯趙駿,張海春

專利號:ZL201811514746.9

專利權人:華中科技大學

簡介:本發明通過實時采集每次SSD操作的數據作爲預測和訓練的輸入,更加貼合實際SSD上的閃存使用情況,得出的預測結果更加准確。

(2)發明專利:一種閃存接口控制方法及裝置

發明人:霍文捷,劉政林,劉柏均

專利號:ZL201510918453.7

專利權人:華中科技大學

簡介:本發明公開了一種閃存接口控制方法,還提出了一種與上述方法對應的裝置。通過以上軟硬件協同工作的方式,僅用簡單的硬件,實現了複雜多樣的閃存命令,顯著提高了相關設備的競爭力。

(3)發明專利:一種閃存器件的軟信息提取方法

發明人:霍文捷,劉政林,李妙心,張文卿

專利號:ZL201510675524.5

專利權人:華中科技大學

簡介:本發明所提出的方法不僅不依賴于閃存內部的特殊命令,而且可以方便地集成進自主閃存控制器中,與LDPC糾錯模塊相配合,實現對先進工藝閃存器件的高強度糾錯,滿足固態存儲對先進工藝閃存器件數據糾錯的需求。

(4)專利申請權:一種自適應的存儲設備損耗均衡方法及系統

發明人:劉政林,潘玉茜,李騰飛,林羽盛

申請號:201911027908.0

申請人:華中科技大學

簡介:本發明公開了一種自適應的存儲裝置損耗均衡方法及裝置,屬于計算機技術領域,本發明充分考慮了存儲單元的擦寫次數,延長了存儲設備可靠工作的時間。

(5)專利申請權:一種基于壽命預測的存儲系統損耗均衡方法及裝置

發明人:劉政林,潘玉茜,王志強,齊明陽

申請號:201910950724.5

申請人:華中科技大學

簡介:本發明公開一種基于壽命預測的存儲系統損耗均衡方法及裝置;本發明真實反映存儲單元可使用狀態,提高存儲單元後期的利用率,延長存儲系統的使用壽命。

(6)專利申請權:一種應用于損耗均衡的存儲單元質量度量方法

發明人:劉政林,潘玉茜,陳卓,文思誠

申請號:201910807106.5

申請人:華中科技大學

簡介:本發明公開了一種應用于損耗均衡的存儲單元質量度量方法,能夠大幅提高質量度量結果的准確度,從而提高存儲系統損耗均衡執行效率並延長存儲系統的使用壽命。

(7)專利申請權:一種基于支持向量回歸的閃存壽命預測方法

發明人:劉政林,陳卓,魯趙駿,張海春

申請號:201811547901.7

申請人:華中科技大學

簡介:本發明公開了一種基于支持向量回歸的閃存壽命預測方法,可以預測閃存的剩余使用壽命,讓閃存存儲設備使用者在使用設備期間了解存儲器的損耗狀態,避免因存儲器單元失效而造成的數據流失。

(8)發明專利:一種基于決策樹算法的閃存壽命預測方法及系統

發明人:劉政林,李騰飛,張浩明,潘玉茜,李四林

專利號:ZL201811544548.7

專利權人:武漢憶數存儲技術有限公司,華中科技大學

簡介:本發明涉及一種基于決策樹算法的閃存壽命預測方法及系統,由決策樹算法計算得到閃存壽命的預測值。本發明具有在相對短的時間內能夠對大型數據源做出可行且效果良好的結果的優點。

(9)專利申請權:一種基于深度學習的閃存壽命預測方法、系統及計算機可讀存取介質

發明人:劉政林,王志強,潘玉茜,張浩明,李四林

申請號:201811545446.7

申請人:武漢憶數存儲技術有限公司,華中科技大學

簡介:本發明涉及一種基于深度學習的閃存壽命預測方法、系統及計算機可讀存取介質。使用權值共享網絡結構減少了訓練參數和計算複雜度,提高了泛化性能,循環卷積神經網絡還能處理序列數據,更好的預測閃存壽命。

(10)專利申請權:一種基于錯誤模式的閃存壽命測試方法

發明人:劉政林,李騰飛,李四林

申請號:201810501831.5

申請人:武漢憶數存儲技術有限公司,華中科技大學

簡介:本發明結合氧化層退化以及現有閃存芯片工藝制造特點,采用特定的基于錯誤模式的高效閃存測試圖形,加速閃存芯片磨損、激發閃存芯片內部單元固有的缺陷,從而實現快速的閃存檢測。

(11)專利申請權:一種不同封裝閃存芯片在線測試和分類方法及測試系統

發明人:劉政林,王志強,李四林

申請號:201810503034.0

申請人:武漢憶數存儲技術有限公司,華中科技大學

簡介:本發明針對不同類型的閃存芯片,采用相應測試圖形(pattern)進行測試,實現對不同封裝、不同型號的閃存芯片的測試;且通過對閃存芯片存儲塊進行分級,根據存儲塊的分級實現對閃存芯片的分級,獲得更准確,更貼合實際數據的閃存芯片分類方法。

(12)專利申請權:一種參數可配置的動態BCH糾錯方法及裝置

發明人:劉政林,王宇,潘玉茜,李四林

申請號:201810125124.0

申請人:武漢憶數存儲技術有限公司,華中科技大學

簡介:本發明涉及一種參數可配置的動態BCH糾錯方法及裝置,固件可根據不同Page具體的P/E周期數,結合其實際出錯比例,在保證可靠性的前提下盡可能提高Flash讀寫性能。

二、擬交易價格

協議轉讓:50萬元

三、價格形成過程

學校委托武漢中康正資産評估有限公司對該項目進行資産評估,評估價值爲49.68萬元。該項目所包含12項知識産權中前7項爲學校獨立所有;第8項至第12項爲學校與武漢憶數存儲技術有限公司共有,其中學校所占權屬均爲1/2。經各方協商,同意以協議定價50萬元將學校所占權屬轉讓給置富科技(深圳)股份有限公司。

特此公示,公示期15日,自2021年4月2日起至2021年4月16日。如有異議,請于公示期內以書面形式實名向我院反映。

聯系人:臧老師

聯系電話:87558732

科學技術發展院

2021年4月2日


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